Title Authors Main Language Views Readings
INVESTIGATION OF DEFECT FORMATION PROCESSES IN SILICON WITH IRON IMPURITY

Физика полупроводников и микроэлектроника

Daliev S.K. Ingliz 548 0
ОСОБЕННОСТИ МАГНИТНЫХ СВОЙСТВ КРЕМНИЯ С МАГНИТНЫМИ НАНОКЛАСТЕРАМИ

Физика полупроводников и микроэлектроника

Movlonov G.H.,
Isomov S.B.,
Ibodullayev S.N.,
Shergoziyev S.B. 		Rus 521 0
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ВАРИЗОННЫХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ КРЕМНИЯ С НАНОКЛАСТЕРАМИ ПРИМЕСНЫХ АТОМОВ Zn и Se

Физика полупроводников и микроэлектроника

Zikrillaev N.F. Rus 503 0
ОСОБЕННОСТИ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ СИЛЬНОКОМПЕНСИРОВАННОГО КРЕМНИЯ, ЛЕГИРОВАННОГО СЕРОЙ

Физика полупроводников и микроэлектроника

Ayupov Q.S. Rus 466 0
SPECTRA OF ENERGY LEVELS OF NANO - SCALE "QUASIMOLECULES" OF SULFUR IN SILICON

Физика полупроводников и микроэлектроника

Askarov S.I. Ingliz 464 0
ВЛИЯНИЕ ДАВЛЕНИЯ НА УРОВНИ ЛАНДАУ ЭЛЕКТРОНОВ В ЗОНЕ ПРОВОДИМОСТИ С ПАРАБОЛИЧЕСКИМ ЗАКОНОМ ДИСПЕРСИИ

Физика полупроводников и микроэлектроника

Erkaboev U.I. Rus 461 0
PHOTOELECTRIC MEASUREMENTS OF SELENIUM DOPED SILICON

Физика полупроводников и микроэлектроника

Mavlyanov A. . Ingliz 441 0
NEGATIVE DIFFERENTIAL RESISTANCE EFFECT IN ZnMgO MEMRISTOR WITH SiO 2 THIN OXIDE LAYER ON P - TYPE SILICON

Физика полупроводников и микроэлектроника

Abdullaev S.. O'zbek 427 0
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЛОКАЛИЗАЦИИ ДЫРОК В РЕШЕТКАХ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЛОКАЛИЗАЦИИ ДЫРОК В РЕШЕТКАХ

Физика полупроводников и микроэлектроника

Turaev E.Y. Rus 426 0
INVESTIGATION OF RECOMBINATIONAL PROCESSES THROUGH PHOTOELECTRIC CONDUCTIVITY OF THE FILM OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON AND ITS MODIFICATION

Физика полупроводников и микроэлектроника

Zaynobidinov S.. Ingliz 426 0