Title Authors Main Language Views Readings
SCANNING PHOTOSTIMULATED ELECTROMETRY FOR TESTING THE UNIFORMITY OF SPATIAL DISTRIBUTION OF SEMICONDUCTOR WAFERS PARAMETERS

Физика полупроводников и микроэлектроника

Tyavlovskiy A.. Ingliz 362 0
POSSIBILITIES OF USING HIGHLY COMPENSATED SILICON IN ELECTRONICS

Физика полупроводников и микроэлектроника

Ayupov K.. Ingliz 334 0
СОЗДАНИЕ НОВЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЁНОК С ПРИМЕНЕНИЕМ НИЗКОЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИИ

Физика полупроводников и микроэлектроника

Normuradov M.T.,
Normurodov D.A.,
Davronov K.T.,
Mustafayeva N.M. 		Rus 330 0
СТАБИЛИЗИРУЮЩЕЕ ДЕЙСТВИЕ ЦИТРАТА НАТРИЯ ПРИ ПОЛУЧЕНИИ НАНОЧАСТИЦ СЕРЕБРА МЕТОДОМ ХИМИЧЕСКОГО ВОССТАНОВЛЕНИЯ

Физика полупроводников и микроэлектроника

Mukimov K. .,
Sharipov S.M.,
Asilov T.S.,
Bakhriddinov A.K. 		Rus 330 0
INVESTIGATION THE DISTRIBUTION OF DOT AND MICRODEFECTS IN EPITAXIAL LAYERS OF ZnSe/GaAS

Физика полупроводников и микроэлектроника

Sharibayev M.B. Ingliz 294 0
TECHNOLOGICAL FEATURES OF OBTAINING STRENGTH SENSITIVE POLYCRYSTALLINE FILMS Bi2-XSbXTe3

Физика полупроводников и микроэлектроника

Onarkulov M.. Ingliz 275 0